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JEM-F200冷场发射透射电镜
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JEOL JEM-Z300FSC(CRYO ARM 300) 冷冻透射电镜TEM
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冷场发射球差校正透射电镜
透射电镜。 在美国的第一台搭载冷场发射电子枪的JEM-ARM200F将安装在Florida State University’s Applied Superconductivity
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日本电子JEM-1400Flash 透射电子显微镜
JEM-1400Flash HCJEM-1400Flash HRTEM分辨率 (nm)0.20.14加速电压10 ~ 120kV倍率 (TEM)×10~1,200,000×10
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JEM-ARM200F 原子分辨分析型透射电子显微镜
(112)情况下保证.3. 选配件4. 标准电压: 120 kV, 200 kV参考招标参数(单一来源):一、项目名称:东北大学“JEM-ARM200F场发射球差校正透射电镜”采购二、采购编号
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日本电子JEM-ACE200F 高效分析型电子显微镜
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JEM系列自动校直机
主机型式 JEM20 JEM30 JEM40 主机型式 门型 可校轴外径 φ20~φ40 φ30~φ45 φ35~φ55 可校轴长 ≤1000mm 修正点数 ≤5 测量
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透射电镜(TEM)
服务详情透射电镜方法是利用透射电镜对样品的结构和性能进行研究的方法。透射电镜的工作原理与光学透射显微镜相同,只是用电子束替代了光束,用磁聚焦的电子透镜替代了玻璃透镜,而电子成像显示于荧光屏上
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Titan Themis TEM透射电镜
技术亮点 :· 可选超稳定、高亮度肖特基场发射电子枪(X-FEG,更多详情请参见单独的产品数据表)· 全新三透镜聚光器系统可量化指示照明区域会聚角和大小,从而量化衡量电子剂量和照明条件· 灵活的
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JEM-2100 透射电子显微镜
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